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끊임없이 증가하는 대역폭 수요에 따라, FTTx PON(수동 광 네트워크)은 점대점(point-to-point) 구조보다 저렴한 비용으로 광섬유의 장점을 제공하기 위해 구축되고 있습니다. 하지만 FTTx PON 네트워크를 설치하고 유지 관리할 때 몇 가지 고유한 테스트 과제가 있습니다. 이 문제를 어떻게 해결할 수 있을까요? 이 글에서는 FTTx PON 테스트에 대한 정보를 참고하실 수 있도록 제공합니다.
FTTx PON 테스트에 대한 기본 정보
적절한 테스트는 PON 설치, 활성화 및 유지 관리에 매우 중요한 부분입니다. 대부분의 구성 요소는 제조 공정 중에 테스트되지만, 접속 및 분배기 및 액세스 단말기 설치 후 다시 테스트됩니다. 설치된 광섬유의 미세 굽힘, 접속 불량, 접속 클로저 또는 액세스 단말기의 매크로 굽힘, 또는 커넥터의 오염, 손상 또는 부적절한 장착으로 인해 과도한 손실이나 반사가 발생하지 않았는지 확인하기 위해 현장 테스트가 필요합니다. 과도한 손실이나 반사를 감지하고 수정하지 않으면 네트워크 성능 저하로 이어질 수 있습니다. 처음에는 성능이 양호해 보일 수 있지만, 시간이 지남에 따라 유지 관리가 필요하기 훨씬 전에 전송 오류가 증가하기 시작할 수 있습니다. 일반적으로 광 링크를 검증하기 위해 커넥터 검사, 삽입 손실 테스트, 광 반사 손실 테스트, OTDR(광 시간 영역 반사 측정) 테스트의 네 가지 테스트가 수행됩니다.
커넥터 검사
설치 및 유지보수 중 커넥터 검사 및 청소는 광 네트워크의 예상 성능을 보장하는 가장 효과적인 방법 중 하나입니다. 일반적으로 아래 그림과 같이 광학 현미경을 사용하여 커넥터를 검사합니다. 라이브 트래픽이 발생할 가능성이 있는 광섬유를 검사할 때 우발적인 눈 손상을 방지하기 위해 비디오 현미경은 커넥터 단면을 촬영하고 확대된 이미지를 휴대용 디스플레이에 표시합니다. 이를 통해 먼지, 이물질 또는 손상을 쉽게 감지할 수 있습니다. 청소 전후 이미지를 촬영하여 차이점을 비교할 수 있습니다. 커넥터 오염 및 손상은 광 네트워크 성능 저하의 가장 흔한 원인입니다.
삽입 손실 테스트
삽입 손실 시험은 한쪽 끝에 알려진 전력 레벨과 파장의 빛을 주입하고, 다른 쪽 끝에서 출력되는 수신 전력 레벨을 측정하여 설치된 링크의 종단 간 손실을 측정합니다. 측정된 송신 전력 레벨과 수신 전력 레벨의 차이는 네트워크를 통한 광 손실을 나타냅니다. 측정된 손실 레벨이 예상 손실 레벨보다 낮을 때 삽입 손실은 허용 가능한 것으로 간주됩니다.
광 반사 손실 테스트
광 반사 손실 시험은 파장과 전력 레벨이 알려진 빛을 한쪽 끝에 주입하고 같은 쪽 끝으로 반사되는 전력 레벨을 측정합니다. 주입된 전력 레벨과 측정된 반사 레벨의 차이가 반사 손실입니다. 반사 손실은 예산 반사 손실 목표보다 높을 때 허용 가능한 것으로 간주됩니다. 낮은 반사 손실 값(35dB 미만)은 일반적으로 테스트 중인 네트워크에서 하나 이상의 과도한 반사 원인을 나타내는 것으로, 일반적으로 커넥터가 더럽거나 손상되었거나 광섬유가 끊어진 경우 발생합니다.
광 네트워크 손실은 파장에 따라 달라지므로, 삽입 및 반사 손실 테스트는 일반적으로 네트워크 운영에 사용될 파장 또는 그 근처의 파장을 사용하여 수행됩니다. FTTx PON의 경우, 상향 파장 1310nm를 사용하고 하향 파장 1490nm와 1550nm를 사용할 수 있습니다. 따라서 1310nm, 1490nm, 1550nm에서 삽입 및 반사 손실 테스트가 필요할 수 있습니다. 각 파장에서 측정된 삽입 및 반사 손실이 링크 예산 범위 내에 있으면 광 네트워크는 활성화 준비가 된 것으로 간주될 수 있습니다. 그러나 많은 경우, 네트워크 운영자는 OTDR을 사용하여 네트워크를 더욱 완벽하게 문서화할 것을 요구합니다.
어떤 시험을 언제, 어디서 치르나요?
광 테스트 는 일반적으로 네트워크 수명 주기의 여러 시점에서 수행됩니다. 설치 검증 테스트는 네트워크 구축 중 또는 네트워크 설치 완료 후 네트워크가 활성화되기 전에 수행됩니다. 이 시점이 일반적으로 가장 완벽한 테스트가 수행되는 시점이며, 삽입 및 반사 손실 테스트와 OTDR 테스트가 포함될 수 있습니다. 유지보수 문제 해결은 서비스 중단 발생 시 수행되며, 일반적으로 가능한 한 빨리 서비스를 복구하기 위한 신속한 대응이 필요합니다.
삽입 손실 시험은 주로 설치 중 FTTx PON을 시험하는 데 사용됩니다. 삽입 손실 시험은 개별 광섬유 세그먼트가 설치되는 동안 수행될 수 있습니다. 또한 FTTx PON의 일부 또는 전체 설치 후 종단 간 삽입 손실 시험을 수행할 수도 있습니다. 삽입 손실 측정을 위해서는 안정적인 광원과 광 파워 미터가 필요합니다. 시험 대상 광섬유의 양쪽 끝단에 접근해야 하므로, 일반적으로 가동 중단 상태에서 시험합니다.
OTDR 테스트는 일반적으로 FTTx PON이 구축될 때 완료됩니다. OTDR을 사용하는 경우, 분배 광섬유는 일반적으로 설치 및 분배기 연결 후에 테스트됩니다. 분배기에 연결된 광섬유는 하향 액세스 포인트 또는 가입자 구내에서만 테스트할 수 있습니다. FTTx PON 설치 테스트 중 OTDR 테스트는 일반적으로 1310nm와 1550nm에서만 수행됩니다. 작동 중 FTTx PON은 항상 하향 방향으로 1490nm, 상향 방향으로 1310nm를 사용합니다. 또한 1550nm를 두 번째 하향 파장으로 사용할 수도 있습니다. 광섬유 손실은 1310nm에서 가장 크고 1550nm에서 가장 작으며, 굽힘 유도 손실은 1550nm에서 가장 큽니다.
결론
PON은 가입자에게 더 높은 대역폭의 광대역 서비스를 비용 효율적으로 제공하기 위해 전 세계적으로 구축되고 있습니다. FTTx PON은 몇 가지 고유한 테스트 과제를 안고 있습니다. 이 글에서 언급된 테스트 방법은 FTTx PON의 검증 및 문제 해결에 권장됩니다. 필요한 경우 도움이 되기를 바랍니다.
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